布鲁克（Bruker Eds） -Xflash®630
Bruker EDS系统膨胀线的Xflash®630系列使用ESPRIT紧凑型软件，可用于桌面SEM（630h compact）和全尺寸SEM（630N幻灯片类型）的两种型号，用于简单或高级元素微型分析
将Bruker ED添加到您的SEM中，将其变成了一种非常强大的分析工具，可以使用高级微分析功能来实现元素分析的多种功能。在任何桌面SEM的最佳起飞角度中，与其他桌面SEM设计不同，EDS信号以最佳的固体角度收集。
这Bruker Esprit紧凑型软件如下所示，提供了许多功能来探测样品组成，厚度和映射。
可应要求提供视频展示布鲁克ESPRIT软件的操作 - 请欧宝体育上yb1k点com用于访问说明
Xflash®630EDS的主要规格
- 高速嵌入式型SDD dectector（无需LN2）
- 能源分辨率：小于129 eV（在MN KA处）
- 探测器区域：30mm
- 元素检测范围：B（5） - AM（95）
- 最大输入计数率：> 150 kcps
- 软件：定性或定量分析
- 分析模式：点，圆，多边形，线扫描，映射
点 /区域组成
- 该软件具有易于使用的功能，用于在点，矩形，圆和多边形上的组成分析
- 具有校准能力的快速准确或定量分析是标准
- 增强的反卷积功能大大改善了量化结果
映射
- Bruker的超图快速和高分辨率映射分析
- 映射提供了分析元素分布的功能
- 单个元素分布的地图可以分开并分别保存
- 每个像素的光谱保存在数据库中，以供以后召回和操纵点或线扫描分析
- 保存格式，颜色，深度，过滤器等的各种用户设置
线扫描
- 用一条线绘制ROI（感兴趣的区域）并沿该行分析元素
- 易于比较ROI沿ROI的元素差与行配置图
- 对于包括混合区（混合区）的多层样品的横截面厚度分析非常有用
- 用于保存格式，颜色，线条扫描宽度，过滤器等的各种用户设置
报告
- 提供了可以根据需要进行编辑的各种报告格式
- 单击Word或PDF的报告保存
